(5)雜散測(cè)試測(cè)量方法
(5)雜散測(cè)試測(cè)量方法4.測(cè)量方法4.1 概述這里介紹兩種雜散發(fā)射的測(cè)量方法。在方法1和方法2中必須注意,由測(cè)試所產(chǎn)生的輻射不得干擾測(cè)試環(huán)境中的測(cè)試系統(tǒng)。同時(shí)必須注意,正確選用雜散發(fā)射標(biāo)準(zhǔn)中特別規(guī)定的...
EMC測(cè)試軟件
EMC測(cè)試軟件 產(chǎn)品一覽測(cè)試軟件的標(biāo)準(zhǔn)總結(jié)25年以上EMC測(cè)試軟件開發(fā)的經(jīng)驗(yàn),研發(fā)而成的EMC軟件,包括EMC整改對(duì)策測(cè)試、認(rèn)證級(jí)測(cè)試,共有400多套系統(tǒng)的銷售業(yè)績(jī)。聽取很多用戶的意見,對(duì)客戶反饋充分...
雜散發(fā)射相關(guān)術(shù)語(yǔ)解析
1.1? 雜散發(fā)射spurious emission必要帶寬之外的某個(gè)或某些頻率的發(fā)射,其發(fā)射電平可降低而不致影響相應(yīng)信息的傳送.雜散發(fā)射包括:諧波發(fā)射、寄生發(fā)射、互調(diào)產(chǎn)物、以及變頻產(chǎn)物,但帶外發(fā)射除...
EMI測(cè)試系統(tǒng)
EMI測(cè)試系統(tǒng)電子設(shè)備的高密度、高封裝化及伴隨著數(shù)字化、移動(dòng)化,致使騷擾源的定位和EMC整改的對(duì)策變得困難起來(lái)。隨著每年測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的修改,我司系統(tǒng)的測(cè)量頻率上限也相應(yīng)擴(kuò)大,電子設(shè)備復(fù)雜化的騷擾,需要測(cè)試...
什么是采樣率?
采樣率是數(shù)字示波器每秒可捕獲的采樣點(diǎn)(離散值)數(shù)量。采樣率決定所捕獲波形的水平分辨率。因此,采樣率界定示波器可記錄的信號(hào)細(xì)節(jié)情況。例如,如果采樣率較低,示波器無(wú)法測(cè)量快速變化的信號(hào)的所有細(xì)節(jié)。R&S?...